
LEDGON测角仪系统
完整的设置,用于测量单个LED和小型LED模块
无论是在可见光范围内还是在紫外线和红外应用中,LED都已在各处确立了自己的光源和辐射源的应用。在开发和质量中,要对这种窄带半导体照明进行鉴定,需要进行严格的光谱辐射观察。这只有借助复杂的测量技术才有可能。
借助LEDGON系统,Instrument Systems开发了一种易于使用的测量系统,非常适合全自动确定单个LED或小型LED模块的相关光度参数。除可见光范围外,它的使用范围从紫外线下的200 nm扩展到红外线下的2150 nm。
该系统包括一个防光的LEDGON 100测角仪和一个CAS系列的光谱辐射仪,以及一个可选的电子样品控制装置。防光外壳中的紧凑设置允许在暗室之外进行照明实验室通常所需的操作。
主要特征:
- 电动2轴测角仪位于防光外壳中
- 高角度精度和可再现性,整个前半部发光空间的角度分辨率达0.1°
- 由于采用了CAS系列分光辐射计,因此具有准确性和稳定性,以及从UV到IR的计量可追溯性
- 通过综合光谱软件显示和进一步分析读数
要求
完整表征基于LED的光源需要广泛的参数集。这些包括:
- 光谱强度分布
- 辐射功率
- 颜色属性
- 排放物的空间分布(辐射分布)
- 辐射产生的能量效率
使用的测量技术适用精度要求,并具有稳定性。Instrument Systems的LEDGON系统在各个方面都适用这些要求。因此,它们被用于众多行业的许多照明实验室中的LED光源鉴定。
系统配置
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