VCSEL 测量系统

使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性

产品描述

参数

用于 VCSEL 特性测定的精密系统

VCSEL 具有出色的光束特性，因此适用于关键应用。典型示例是通过 LiDAR 进行面部识别。但是，在有人员活动的环境中使用激光二极管，使测定其光束特性变得重要，并对使用的测量系统提出了挑战。

在 CAS 系列光谱仪高分辨率版本的基础上，Instrument Systems 提供了针对实验室 VCSEL 特性测定而进行优化调节的测量系统。借助合适的配件，可满足不同的个别需求。请与我们联系！

关键特性：

0.12 nm 的出色光谱分辨率
4 ms 以上的积分时间
用于脉冲激光二极管/VCSEL 的阵列光谱仪

测量挑战

激光二极管通常在很窄的光谱范围内提供好的性能。因此，Instrument Systems 提供光谱分辨率达 0.1x nm、积分时间达 4 ms 以上的光谱仪，用于实验室 VCSEL 测量。这些光谱仪的可追溯校准的一个优势是可从测得的光谱中简单地计算出辐射通量。或者，该测量系统也可由光电二极管扩展，例如，用于测量脉冲激光二极管的脉冲波形。如果需要测试 ns 范围的脉冲，可使用系统 (PVT 110)。如果您有此类需求，请联系我们。

系统配置

实验室用于测定激光二极管/VCSEL 的辐射通量的一体化系统通常包含以下部件：

部件	描述
光谱仪	- 具有 0.2 nm 光谱分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR，作为配有带制冷的 CCD 探测器的测量解决方案，可实现稳定性，例如在参考系统中。 - 具有 0.1x nm 光谱分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR，作为 CAS 140CT-HR 的替代产品。
积分球	- 具有 75 和 100 mm 小内径的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧，适合安装在处理器和探测器系统中。 - 可选：带光电二极管的 ISP 100，例如，使用脉冲激光二极管测定脉冲波形特性。 - 替代产品：ISP 150L，内径为 150 mm，直径为 50 mm 的测量端口可用于测量较大激光模块/阵列，带有借助集成式辅助光源实现的自吸收修正功能。
校准	可追溯至标准 PTB 或 NIST 的校准。
软件	SpecWin Pro 实验室软件。CAS.dll 和 SDK，用于集成到客户的生产流程中。
IR 参考 LED （可选）	ACS-570-15、-17：具有 860 nm 和 950 nm 的参考 LED。为了稳定操作和精度，建议与稳定的 PSU-10 电源结合使用。